滿(mǎn)足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
1. GB 10589-2008 《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
2. GB 11158-2008 《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
3. GB 10592-2008 《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
4. GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》
5. GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》
6. GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》
7. GB2423.22-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》
8. GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》
