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BMEP586040   控制器  

：先外后內(nèi) 
使用工具：電路在線維修儀 
如果情況允許，是找一塊與被維修板一樣的好板作為參照，然后使用一起的雙棒VI曲線掃描功能對(duì)兩塊板進(jìn)行好、壞對(duì)比測(cè)試，起始的對(duì)比點(diǎn)可以從端口開始，然后由表及里，尤其是對(duì)電容的對(duì)比測(cè)試，可以彌補(bǔ)萬用表在線難以測(cè)出是否漏電的缺憾。 
：先易后難 
使用工具：電路在線維修儀、電烙鐵、記號(hào)筆 
為提高測(cè)試效果，在對(duì)電路板進(jìn)行在線功能測(cè)試前，應(yīng)對(duì)被修板做一些技術(shù)處理，以盡量削弱各種干擾對(duì)測(cè)試進(jìn)程帶來的負(fù)面影響。具體措施是： 
1、測(cè)試前的準(zhǔn)備 
將晶振短路,對(duì)大的電解電容要焊下一條腳使其開路，因?yàn)殡娙莸某浞烹娡瑯右材軒砀蓴_。 
2、采用排除法對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試 
對(duì)器件進(jìn)行在線測(cè)試或比較過程中，凡是測(cè)試通過（或比較正常）的器件，請(qǐng)直接確認(rèn)測(cè)試結(jié)果，以便記錄；對(duì)測(cè)試未通過（或比較超差）的，可再測(cè)試一遍，若還是未通過，也可先確認(rèn)測(cè)試結(jié)果，就這樣一直測(cè)試下去，直到將板上的器件測(cè)試（或比較）完，然后再回過頭來處理那些未通過測(cè)試（或比較超差）的器件。對(duì)未通過功能在線測(cè)試的器件，儀器還提供了一種不太卻又比較實(shí)用的處理方法，由于儀器對(duì)電路板的供電可以通過測(cè)試夾施加到器件相應(yīng)的電源與地腳，若對(duì)器件的電源腳實(shí)施刃割，則這個(gè)器件將脫離電路板供電系統(tǒng)，這時(shí)再對(duì)該器件進(jìn)行在線功能測(cè)試，由于電路板上的其他器件將不會(huì)再起干擾作用，實(shí)際測(cè)試效果等同于“準(zhǔn)離線”，測(cè)準(zhǔn)率將獲得很大提高。 
3、用ASA-VI曲線掃描測(cè)試對(duì)測(cè)試庫尚未涵蓋的器件進(jìn)行比較測(cè)試 
由于ASA-VI智能曲線掃描技術(shù)能適用于對(duì)任何器件的比較測(cè)試，只要測(cè)試夾能將器件夾住，再有一塊參照板，通過對(duì)比測(cè)試，同樣對(duì)器件具備較強(qiáng)的故障偵測(cè)能力。該功能彌補(bǔ)了器件在線功能測(cè)試要受制于測(cè)試庫的不足，拓展了儀器對(duì)電路板故障的偵測(cè)范圍?，F(xiàn)實(shí)中往往會(huì)出現(xiàn)無法找到好板做參照的情景，而且待修板本身的電路結(jié)構(gòu)也無任何對(duì)稱性，在這種情況下，ASA-VI曲線掃描比較測(cè)試功能起不了作用，而在線功能測(cè)試由于器件測(cè)試庫的不完全，無法完成對(duì)電路板上每一個(gè)器件都測(cè)試一遍，電路板依然無法修復(fù)，這兒就是電路在線維修儀的局限，就跟沒有包治百病的藥一樣。 
：先靜后動(dòng) 
由于電路在線維修儀目前只能對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能在線測(cè)試和靜態(tài)特征分析，是否完全修好必須要經(jīng)過整機(jī)測(cè)試檢驗(yàn)，因此，在檢驗(yàn)時(shí)先檢查一下設(shè)備的電源是否按要求正確供給到電路板上。 

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2022年11月6日至8日，年度行業(yè)盛會(huì)“ELEXCON深圳國際電子展暨嵌入式系統(tǒng)展”在深圳會(huì)展中心（福田）盛大舉行，國產(chǎn)32位MCU和安全芯片的創(chuàng)新者國民技術(shù)攜帶通用MCU、安全芯片、無線射頻等最新產(chǎn)品技術(shù)和解決方案參加展會(huì)，以11個(gè)主題展區(qū)共100余件全明星展品陣容精彩亮相，新品車規(guī)級(jí)MCU N32A455以及新一代物聯(lián)網(wǎng)安全芯片N32S003產(chǎn)品應(yīng)用全面展示與推介，并在展會(huì)同期舉辦的兩個(gè)線下技術(shù)論壇和一場(chǎng)新能源媒體直播活動(dòng)中分享了國民技術(shù)“通用＋安全”產(chǎn)品布局和成功應(yīng)用案例。

  在11月6日的“十四屆MCU技術(shù)創(chuàng)新與應(yīng)用大會(huì)”論壇上，國民技術(shù)市場(chǎng)總監(jiān)劉亞明做了題為“創(chuàng)新未來，國民技術(shù)N32系列通用MCU產(chǎn)品與技術(shù)應(yīng)用分享”的主題演講，向與會(huì)者全面介紹了國民技術(shù)通用MCU產(chǎn)品戰(zhàn)略、發(fā)展路線圖、優(yōu)勢(shì)技術(shù)特點(diǎn)和典型應(yīng)用案例。

Allen-Bradley（羅克韋爾），Schneider（施耐德），Siemens（西門子），GE（通用電氣），ABB，
Omron（歐姆龍），IFM（易福門），Emerson（艾默生），F(xiàn)anuc（發(fā)那科），F(xiàn)oxboro（?？怂共_），
Westinghouse（西屋），Honeywell（霍尼韋爾），Panasonic（松下），Mitsubsihi（三菱），
Beckhoff（倍福），Yaskawa（安川），Pepperl+fuchs（倍加福），B&R（貝加萊），Danfoss（丹佛斯）
，F(xiàn)uji（富士），F(xiàn)esto（費(fèi)斯托），Phoenix（菲尼克斯），Koyo（光洋），Yokogawa（橫河），
Heidenhain（海德漢），Hydac（賀德克），Hirschmann（赫斯曼），Keyence（基恩士），Moeller（穆勒），
Kuka（庫卡），Kollmorgen（科爾摩根），Lenze（倫茨），Rosemount（羅斯蒙特），LG，LS（產(chǎn)電），
Rexroth（力士樂），Leuze（勞易測(cè)），Norgren（諾冠），Pilz（皮爾茲），Pro-face（普洛菲斯），
SMC，Sanyo（三洋），Delta（臺(tái)達(dá)），Turck（圖爾克），Sick（施克），Sharp（夏普），Eaton（伊頓）
,bently (本特利）