F31X175SSBAKG2FR00— 芯片設(shè)計(jì)方法可保持溫度和工藝變化條件下的SRAM穩(wěn)定性，同時(shí)實(shí)現(xiàn)全球最小的0.245μm2的存儲(chǔ)單元面積。
日本東京和美國(guó)加利福尼亞州圣荷西——2007年2月13日——瑞薩科技公司（Renesas Technology Corp.）與松下電器產(chǎn)業(yè)有限公司（紐約證券交易所代碼：MC）今天宣布，共同開(kāi)發(fā)出一種可以使45nm工藝傳統(tǒng)CMOS＊1的SRAM（靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器）穩(wěn)定工作的技術(shù)，這種SRAM可以嵌入在SoC（系統(tǒng)級(jí)芯片）器件和微處理器（MPU）當(dāng)中。F31X175SSBAKG2FR00采用這種技術(shù)的512Kb SRAM的實(shí)驗(yàn)芯片的測(cè)試已經(jīng)得到證實(shí)，可以在寬泛的溫度條件下（-40℃－125℃）穩(wěn)定工作，而且在工藝發(fā)生變化時(shí)具有較大的工作電壓范圍裕量。采用45nm CMOS工藝生產(chǎn)的用于實(shí)驗(yàn)的SRAM芯片集成了兩種不同的存儲(chǔ)單元設(shè)計(jì)，一個(gè)元件面積僅有0.327μm2，另一個(gè)的元件面積為0.245μm 2——這是全球最小的水平。更小的存儲(chǔ)單元是利用減少處理尺寸裕量實(shí)現(xiàn)的。
F31X175SSBAKG2FR00 這一技術(shù)進(jìn)展的細(xì)節(jié)將在正在舊金山舉行的2007國(guó)際固態(tài)電路會(huì)議（ISSCC 2007）的第18分組會(huì)議的18.3論文時(shí)段進(jìn)行宣講。該創(chuàng)新具有重大意義，因?yàn)镾RAM是用于嵌入式控制應(yīng)用的SoC和MPU的十分重要的片上功能?；ハ嗝艿内厔?shì)在于，這些應(yīng)用正變得更加復(fù)雜，需要更多的SRAM，正如半導(dǎo)體工藝的縮小使生產(chǎn)適當(dāng)設(shè)備功能所需的可穩(wěn)定工作的SRAM變得更加困難那樣。采用新的制造技術(shù)生產(chǎn)的45nm工藝SRAM將有助于以低成本實(shí)現(xiàn)高性能的芯片，因?yàn)樗褂脗鹘y(tǒng)CMOS而不是硅絕緣體（SOI）材料這一比較昂貴的方法。
F31X175SSBAKG2FR00
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