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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

德國(guó)EPK公司MiniTest1100涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品價(jià)格：￥28000

上架日期：2012-03-18 14:01:46

產(chǎn)地：德國(guó)

發(fā)貨地：上海

供應(yīng)數(shù)量：不限

最少起訂：1套

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詳細(xì)說(shuō)明

產(chǎn)品特點(diǎn)：

MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

技術(shù)參數(shù)

型號(hào)	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))	1	1	10	99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值)	-	1	10	99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)	-	1	500	500
數(shù)據(jù)總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)	-	-	-	√
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值	-	-	√	√
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間	-	√	√	√
其他功能
設(shè)置極限值	-	-	√	√
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過(guò)模擬柱識(shí)別最大最小值	-	-	√	√
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)	-	-	√	√
連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值	-	-	√	√

MiniTest涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)

　　所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
　　F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
　　N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
　　FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

探頭		量程	低端分辨率	誤差	最小曲率半徑	最小測(cè)量區(qū)域直徑	最小基體厚度	探頭尺寸 (mm)
磁感應(yīng) 法	F05	0-500um	0.1um	±(1%±0.7um)	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62
	F1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62
	F1.6/90	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170
	F2/90	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170
	F3	0-3000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62
	F10	0-10mm	5um	±(1%±10um)	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46
	F20	0-20mm	10um	±(1%±10um)	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66
	F50	0-50mm	10um	±(3%±50um)	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70
兩用	FN1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50um	φ15x62
	FN1.6P	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面	30mm	F0.5mm/N50um	φ21x89
	FN2	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	F0.5mm/N50um	φ15x62
電渦流法	N02	0-200um	0.1um	±(1%±0.5um)	1/10mm	2mm	50um	φ16x70
	N.08Cr	0-80um	0.1um	±(1%±1um)	2.5mm	2mm	100um	φ15x62
	N1.6	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	1.5/10mm	2mm	50um	φ15x62
	N1.6/90	0-1600um	0.1um	±(1%±1um)	平面/10mm	5mm	50um	φ13x13x170
	N2	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	1.5/10mm	5mm	50um	φ15x62
	N2/90	0-2000um	0.2um	±(1%±1um)	平面/10mm	5mm	50um	φ13x13x170
	N10	0-10mm	10um	±(1%±25um)	25/100mm	50mm	50um	φ60x50
	N20	0-20mm	10um	±(1%±50um)	25/100mm	70mm	50um	φ65x75
	N100	0-100mm	100um	±(1%±0.3mm)	100mm/平面	200mm	50um	φ126x155
	CN02	10-200um	0.2um	±(1%±1um)	平面	7mm	無(wú)限制	φ17x80

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

MiniTest涂層測(cè)厚儀探頭圖示

	FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)
	FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測(cè)頭，特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度
	FN2 0～2000μm,φ5mm 兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層
	F05 0～500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高(O.1μm)
	F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭量程低端分辨率很高(O.1μm)
	F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭可用于較厚的覆層
	F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(O.1μm)
	F2/90 0～2000μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
	F10 0～10mm,φ20mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
	F20 0～20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
	F50 0～50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
	N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)
	N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
	N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm)
	N2 0～2000μm,φ5mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
	N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層,尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(O.1μm)
	N2/90 0～2000μm,φ5mm磁性測(cè)頭，尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
	N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	N100 0～100mm,200mm 非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	CN02 10～200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板

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