MiniTest 725/735/745涂層測厚儀 德國EPK品牌
MINITEST 725/735/745涂層測厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)表SIDSP探頭
F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5
F2
F5，N2.5，F(xiàn)N5
F15
F
F
F
F
測量范圍
0-1.5mm
0-0.7mm
0-2mm
0-5mm
0-2.5mm
0-15mm
使用范圍
小工件，薄涂層，跟測量支架一起使用
粗糙表面
標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛
厚涂層
測量原理
磁感應(yīng)
電渦流
磁感應(yīng)
磁感應(yīng)
電渦流
磁感應(yīng)
信號處理
探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP）
精確度
±（1μm+0.75%讀值）
±（1.5μm+0.75%讀值）
±（5μm+0.75%讀值）
重復(fù)性
±（0.5μm+0.5%讀值）
±（0.8μm+0.5%讀值）
±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率
0.05μm
0.1μm
1μm
小曲率半徑（凸）
1.0mm
1.5mm
5mm
小曲率半徑（凹，外置探頭）
7.5mm
10mm
25mm
小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）
30mm
30mm
30mm
小測量面積
Φ5mm
Φ10mm
Φ25mm
小基體厚度
0.3mm
40μm
0.5mm
0.5mm
40μm
1mm
連續(xù)模式下測量速度
每秒20個讀數(shù)
單值模式下大測量速度
每分鐘70個讀數(shù)
MINITEST 725/735/745涂層測厚儀主機(jī)
MINITEST 725
MINITEST 735
MINITEST 745
探頭類型
內(nèi)置
外置
內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)
10
10
100
存儲數(shù)據(jù)量
多10,000個
最多10,000個
最多100,000個
統(tǒng)計(jì)值
讀值個數(shù)，最小值，最大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）
校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范
ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式
出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控
聲、光報(bào)警提示超過極限值
測量單位
um，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度
-10℃-60℃
存放溫度
-20℃-70℃
數(shù)據(jù)接口
IrDA 1.0（紅外接口）
電源
2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn)
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840ASTM B244，B499，D7091，E376AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積
157mm x 75.5mm x 49mm
重量
約175g
約210g
約175g（內(nèi)置）/230g（外置）
探頭特性
型號特性
