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普通傳統(tǒng)的制樣減薄方法存在遠端的薄區(qū)極易彎曲和薄區(qū)厚度不均勻的問題, 因此某機構采用伯東KRI 聚焦型射頻離子源 RFICP 380 通過交叉減薄的方法制備超薄 TEM 樣品.

交叉減薄

交叉減薄的過程利用 TEM 樣品臺的旋轉來完成, 如下圖.

TEM 樣品臺模型圖

伯東 KRI 聚焦型射頻離子源 RFICP 380 技術參數:

推薦理由:

使用 KRI 聚焦型射頻離子源 RFICP 380 可以準確、靈活地對樣品選定的區(qū)域進行刻蝕、沉積和減薄.

運行結果:

1. 通過利用 KRI 聚焦型射頻離子源 RFICP 380 和樣品臺交叉減薄得到的薄區(qū)非常均勻, 邊緣整齊. 相比較傳統(tǒng)減薄方法, 交叉減薄避免了樣品在傾斜52°和56°減薄時出現的邊緣收縮問題和遠端薄區(qū)彎曲問題.

2. 對于復合材料大大降低了位于兩相界面處薄區(qū)的厚度, 提高了樣品質量, 提高了制樣的成功率和效率.

伯東是德國 Pfeiffer 真空泵, 檢漏儀, 質譜儀, 真空計, 美國 KRI 考夫曼離子源, 美國HVA 真空閥門, 美國 inTEST 高低溫沖擊測試機, 美國 Ambrell 感應加熱設備和日本 NS 離子蝕刻機等進口知名品牌的指定代理商.

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