上海伯東高低溫測試機(jī)ATS-545在超低功率模擬芯片上的應(yīng)用
基于22nm、40nm、55nm成功開發(fā)了NB-IoT/IoT模擬IP平臺, 包含了全套nA級的超低功耗模擬IP, 包括50nA的超低功耗LDO, 80nA Bandgap, 零靜態(tài)功耗POR, 25uA的超低功耗DCDC, 0.8uW SAR-ADC, 0.5uW PLL及支持低功耗模式的多功能IO庫. 在55nm、110nm、130nm、180nm等CMOS和Embedded-flash工藝制程上, 成功開發(fā)了MCU模擬IP平臺, 本文主要介紹上海伯東inTEST ATS-545在超低功率模擬芯片上的應(yīng)用.
上海伯東高低溫測試機(jī)ATS-545在超低功率模擬芯片上的應(yīng)用的原因:
目前的低功耗設(shè)計主要從芯片設(shè)計和系統(tǒng)設(shè)計兩個方面考慮. 隨著半導(dǎo)體工藝的飛速發(fā)展和芯片工作頻率的提高, 芯片的功耗迅速增加, 而功耗增加又將導(dǎo)致芯片發(fā)熱量的增大和可靠性的下降. 因此, 功耗已經(jīng)成為深亞微米集成電路設(shè)計中的一個重要考慮因素. 為了使產(chǎn)品更具競爭力, 需要在不同溫度環(huán)境下對模擬芯片進(jìn)行性能測試, 以確保能在綜合復(fù)雜的環(huán)境中正常使用, 客戶最終選擇了ATS-545高低溫沖擊機(jī)進(jìn)行測試.
超低功率模擬芯片測試方法：
具體做法如下.
1.將芯片放置于已做好的工裝中；
2.將sensor一端連接熱流罩上對應(yīng)接口, 一端與芯片表面接觸；
3.將ATS-545熱流罩轉(zhuǎn)到工裝平臺并下壓固定；
4.啟動ATS-545高低溫沖擊機(jī)加熱至需要測試的溫度點(diǎn)；
5.啟動芯片測試設(shè)備對芯片在-55度及125度下進(jìn)行性能測試并記錄數(shù)據(jù)；
ATS-545高低溫沖擊機(jī)在通信芯片方面的客戶案例：
成都銳成芯微電子, 通過伯東購買ATS-545高低溫沖擊機(jī)
inTEST ThermoStream高低溫測試機(jī) ATS-545 功能特點(diǎn)：
與友廠對比, inTEST ThermoStream 獨(dú)有的專利自動復(fù)疊式制冷系統(tǒng) (auto cascade refrigeration) 保證低溫, 內(nèi)置 AC 交流壓縮機(jī), 冷凍機(jī) Chiller 特殊設(shè)計, 制冷劑不含氟利昂, 安全無毒, 不易燃, 有1.效保護(hù)環(huán)境; 專利 ESD 防靜電保護(hù)設(shè)計
2.旋鈕式控制面板, 支持測試數(shù)據(jù)存儲
3.過熱溫度保護(hù): 出廠設(shè)置溫度 +230°C
4.加熱模式下, 冷凍機(jī)可切換成待機(jī)模式, 以減少電力消耗
5.干燥氣流持續(xù)吹掃測試表面, 防止水氣凝結(jié)
inTEST 高低溫測試方法：提供兩種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode
通過熱流罩或測試腔將被測 IC 與周邊環(huán)境隔離, 然后對 IC 循環(huán)噴射冷熱氣流, 使IC 溫度短時間發(fā)生急劇變化, 從而完成溫度循環(huán)和溫度沖擊的測試.
上海伯東是德國 Pfeiffer 真空設(shè)備, 美國 KRI 考夫曼離子源, 美國 inTEST 高低溫沖擊測試機(jī), 美國 Ambrell 感應(yīng)加熱設(shè)備和日本 NS 離子蝕刻機(jī)等進(jìn)口知名品牌的指定代理商.
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